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JSM-IT810 場發射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率，實現了自動化操作。內置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外，還新增了一些功能，確保所有SEM用戶獲得高質量數據和更好的用戶體驗。FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。

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JSM-IT200 InTouchScope™ 日本電子掃描電鏡是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。